產(chǎn)品列表 / products
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廣電計(jì)量飽和濕度試驗(yàn)-防潮性能測(cè)試協(xié)助客戶制定測(cè)試方案,開(kāi)展測(cè)試,出具測(cè)試報(bào)告。
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更新日期:2025-02-13
在線留言品牌 | 廣電計(jì)量 | 服務(wù)區(qū)域 | 全國(guó) |
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服務(wù)周期 | 常規(guī)5-7個(gè)工作日 | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS |
服務(wù)內(nèi)容
飽和濕度試驗(yàn)-防潮性能測(cè)試協(xié)助客戶制定測(cè)試方案,開(kāi)展測(cè)試,出具測(cè)試報(bào)告。
服務(wù)范圍
本測(cè)試適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品。多在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段開(kāi)展,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
JESD22-A118B | 加速濕度抵抗-非偏置高加速應(yīng)力試驗(yàn) |
JESD22-A110 | 高加速溫度和濕度應(yīng)力試驗(yàn) |
AEC-Q101-Rev-E March1 | 車用分立半導(dǎo)體元器件的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證 |
AEC-Q100-Rev-H | 集成電路的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證 |
檢測(cè)項(xiàng)目
半導(dǎo)體分立器件、集成電路、微電子器件、IC等的高加速應(yīng)力測(cè)試、高壓蒸煮、無(wú)偏置HAST、無(wú)偏置溫濕度試驗(yàn)、溫濕度偏置等項(xiàng)目。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
測(cè)試周期
根據(jù)需求確定。
服務(wù)背景
為什么要做此測(cè)試? HAST高加速老化測(cè)試是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來(lái)完成的。
相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試,HAST增加了壓力控制,可以實(shí)現(xiàn)超過(guò)100℃條件下的溫濕度控制,能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移,腐蝕,絕緣劣化,材料老化等),大大縮短可靠性評(píng)估的測(cè)試周期。尤其在PCB、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、顯示面板等產(chǎn)品測(cè)試中,HAST高加速老化被作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測(cè)試的快速有效替代方案。
我們的優(yōu)勢(shì)
1、廣電計(jì)量是國(guó)內(nèi)認(rèn)可的專業(yè)第三方檢驗(yàn)機(jī)構(gòu),可提供一站式技術(shù)服務(wù);
2、廣電計(jì)量環(huán)境與可靠性事業(yè)部在全國(guó)建立了18個(gè)實(shí)驗(yàn)室,擁有專業(yè)的多學(xué)科專家團(tuán)隊(duì)和的檢測(cè)設(shè)備;
3、廣電計(jì)量環(huán)境與可靠性實(shí)驗(yàn)室具備CMA、CNAS等資質(zhì),實(shí)行全國(guó)一體化管控模式,積極參加各類能力驗(yàn)證項(xiàng)目,確保檢測(cè)結(jié)果公正準(zhǔn)確、可追溯;
l4、廣電計(jì)量在加速老化試驗(yàn)方面有數(shù)十年積累,具有業(yè)內(nèi)專業(yè)水平的試驗(yàn)設(shè)備和專業(yè)人才團(tuán)隊(duì)。
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